Gary L. West, H. TroyNagle, JR., Victor P. Nelson, 徐吉万. 数字集成电路测试系统的计算机控制[J]. 机器人, 1982, 4(2): 50-52.
引用本文: Gary L. West, H. TroyNagle, JR., Victor P. Nelson, 徐吉万. 数字集成电路测试系统的计算机控制[J]. 机器人, 1982, 4(2): 50-52.
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数字集成电路测试系统的计算机控制

    摘要
  • 摘要: 本文描述了一台低成本数字IC测试设备，它是用Intel-8080微计算机系列来实现的.加到每只待测IC片上的测试码模式从存储在存储器中的表内查取，如果需要，还可有相应的时钟信号.然后检测集成电路的结果输出，看是否有因“粘贴”而引起的错误结果或其它功能上的故障. 本文给出了硬件结构和软件结构，并给出实际系统使用的测试结果.

     

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