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基于SIFT特征和粒子滤波的目标跟踪方法
牛长锋1, 陈登峰2, 刘玉树1
1. 北京理工大学计算机学院,北京 100081;
2. 西安建筑科技大学信息与控制工程学院,陕西 西安 710055
Tacking Object Based on SIFT Features and Particle Filter
NIU Changfeng1, CHEN Dengfeng2, LIU Yushu1
1. School of Computer Science and Technology, Beijing Institute of Technology, Beijing 100081, China;
2. Information and Control Engineering School, Xi'an University of Architecture and Technology, Xi'an 710055, China
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